隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展，在國(guó)民經(jīng)濟(jì)的許多部門(mén)，如能源、動(dòng)力、機(jī)械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來(lái)越多的細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問(wèn)題有待解決，顆粒粒徑大小的測(cè)量是其中基本也是重要的一個(gè)方面。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量，而且對(duì)工藝過(guò)程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來(lái)，與高新技術(shù)、國(guó)防工業(yè)、軍事科學(xué)等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料，特別是超細(xì)納米顆粒的問(wèn)世和利用，給顆粒粒徑的測(cè)量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息，以滿(mǎn)足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應(yīng)用的需要。儀器集先進(jìn)激光技術(shù)、半導(dǎo)體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用，綜合了光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)于一體，以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測(cè)量技術(shù)突出的優(yōu)點(diǎn)逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測(cè)量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測(cè)量?jī)x器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來(lái)越大的作用。

本儀器符合但并不局限于以下標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 13320-2009     G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

技術(shù)參數(shù)：

1.   理論依據(jù):Mie散射理論

2.   粒徑測(cè)量范圍:0.1-200um

3.   光源:半導(dǎo)體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長(zhǎng)635nm

4.   重復(fù)性誤差:<1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差）

5.   測(cè)量誤差:<1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差，用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn)）

6.   檢測(cè)器:32或48或64或更高通道硅光電二極管

7.   樣品池:滴樣法樣品池10mL；循環(huán)樣品池（500mL內(nèi)置超聲分散、攪拌裝置）

8.   測(cè)量分析時(shí)間：正常條件下小于1分鐘（從開(kāi)始測(cè)量到顯示分析結(jié)果）

9.   輸出內(nèi)容：體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計(jì)平均直徑；操作者信息；實(shí)驗(yàn)樣品信息、分散介質(zhì)信息等。

10. 顯示方式：內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦，可連接鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、U盤(pán)

11. 電腦系統(tǒng)：WIN 10系統(tǒng)，30GB硬盤(pán)容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存

12. 電源：220V，50 Hz

工作條件：

l  1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃

l  2.相對(duì)溫度：不大于85%（無(wú)冷凝）

l  3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。

l  4.由于在微米級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量，儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。

l  5.儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。

l  6.設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。

7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。